: Hallo Markus,
: Du hast recht, dass Du Zahlen, Daten und Fakten benötigst. Dies kannst Du z.B. durch eine nachgeschaltete AOI (Automatic Optical Inspection)
: realisieren, wo Du Daten bekommst, wie gut die Platzierung ist und wie weit diese sich auf die nächsten Lose auswirken wird (Offset).
AOI haben wir leider noch nicht, und werden wir in der nächsten Zeit wohl auch nicht bekommen.
: Dann ist auch der gute alte Gauß wieder gefragt und kann uns zeigen, wo wir liegen.
Ich kann doch aber nur sagen, daß z.B. auf einem Nutzen mit 24 Leiterplatten mit z.B. jeweils 25 Bauelementen zwei Bauelemente nicht korrekt auf dem Pad lagen. Wenn ich diese Stichprobe mehrmals mache, habe ich doch nur eine Häfigkeitsverteilung, wieviel Fehler aufgetreten sind, bzw. ob eine Leiterplatte gut/schlecht ist. Für eine Prozeßfähigkeitsanalyse brauche ich doch aber obere, untere Toleranzgrenzen und einen Mittelwert, also variable Daten und keine attributiven Daten (gut/schlecht)
: Kurz ein paar Gedanken.
: Grüssle
: Felde
Gruß Markus